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科研制造

推力计,用于芯片推力测试的力学测量仪器。检验芯片与不同材料的焊接效果,实现对芯片结合力等测试功能的检测。


至芯半导体(杭州)有限公司


老化台,用于测试点亮LED光源产品在常温,高温、低温、恒温恒湿等温度环境变化的性能;以及对LED光源进行脉冲寿命试验,检验LED光源的开关性能验证。


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积分球,用于LED产品综合性的电、光分析功能,可测量紫外LED光源的光谱功率分布,峰值波长、半宽度、ABC各波段的光谱辐通量、和特定波段内总辐射通量、电压和电流等相关参数。


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光学膜厚测试仪

膜厚测量仪是一种测量样品的厚度、折射率(n, k)和表面粗糙度等信息的光学仪器,可支持不同光谱范围,光谱范围可达200-1700nm,主要测量SiO2膜厚、折射率、ITO膜厚、PR膜厚等。


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探针式轮廓仪

探针式轮廓仪支持量测台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能,主要测量PR厚度、MESA厚度、METAL厚度等。


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自动倒装UV测试机

自动倒装UV测试机,适用于2~6寸LED晶圆的全自动测试,采用cassette自动上下片系统和八针测试,快捷方便产能高,可测量产品的工作电压、开启电压、光功率、波长、漏电等光电性能参数。


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